Ученые физического факультета МГУ провели исследование структуры и морфологии кластерно-слоистых пленок с использованием двух синхротронных методов: малоуглового рентгеновского рассеяния в скользящей геометрии (GISAXS) и синхротронной мессбауэровской спектроскопии.
Ультратонкие магнитные пленки и магнитные многослойные структуры обладают уникальными свойствами, которые отличают их от обычных материалов. Именно поэтому они играют важную роль в современной микроэлектронике, спинтронике, оптоэлектронике и сенсорике. Однако, для создания новых технологий необходимо детально изучить структуру таких объектов.
Используя метод GISAXS, исследователи обнаружили наличие кластеров в пленках и смогли определить их размеры. Оказалось, что размеры кластеров зависят от толщины слоя и влияют на кондо-подобное поведение электрического сопротивления. Даже небольшое различие в размерах кластеров может привести к значительным изменениям в электрических свойствах материала.
Полученные результаты имеют важное значение для разработки новых элементов магнитной памяти и мемристоров. Они позволяют лучше понять процессы, происходящие в кластерно-слоистых пленках и оптимизировать их структуру для достижения желаемых свойств. Это открывает новые возможности для создания более эффективных и компактных устройств.
Роман Баулин, старший научный сотрудник кафедры физики твердого тела физического факультета МГУ, также подчеркнул, что полученная информация важна для создания новых магнитной памяти и мемристоров.